
Многофункциональный атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro позволяет проводить 3D-сканирование материалов, электронных устройств и биологических образцов. Он поддерживает несколько режимов работы, включая контактный, полуконтактный и бесконтактный, предоставляя пользователям более гибкие и точные возможности управления. Кроме того, он объединяет различные функциональные режимы, такие как магнитно-силовая микроскопия, электростатическая силовая микроскопия, сканирующая кельвин-микроскопия и пьезоэлектрическая силовая микроскопия, обеспечивая высокую стабильность и отличную расширяемость. Функциональные модули могут быть гибко настроены в соответствии с потребностями пользователя, предоставляя целевые решения для конкретных областей исследований и создавая высокоэффективную многофункциональную платформу для анализа.
| Технические характеристики | |
| Размер образца: | Совместимость с образцами диаметром до 25 мм |
| Метод сканирования: | Трехосное сканирование образца по осям XYZ |
| Диапазон сканирования: | 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм |
| Скорость сканирования: | 0,1 Гц ~ 30 Гц |
| Уровень шума по оси Z: | 0,04 нм |
| Нелинейность: | Направление XY: 0,02%, направление Z: 0,08% |
| Точки дискретизации изображения: | 32×32 до 4096×4096 |
| Режимы работы: | Контактный режим, режим касания, режим фазовой визуализации, режим подъема, режим многонаправленного сканирования |
| Многофункциональные измерения: | EFM, KPFM, PFM, SCM, MFM |
| Дополнительно | C-AFM |
| Module No. | Item | Description |
| SAFM-PRO | Measurement mode | Electrostatic force microscopy (EFM); Scanning Kelvin microscopy (KPFM); Piezoelectric force microscopy (PFM) Scanning capacitance atomic force microscopy (SCM); Magnetic force microscopy (MFM); |
| Module No. | Item | Description |
| C-AFM | Measurement mode | Conductive Atomic Force Microscopy |