
Прецизионный измеритель LCR серии STB8840 использует инновационные технологии нового поколения, такие как архитектура с двумя процессорами, базовый уровень Linux, 10,1-дюймовый емкостный сенсорный экран и встроенная система управления, что эффективно решает проблемы медленного измерения LCR, одноэкранного режима и сложного управления, характерные для предыдущих моделей.
Диапазон частот измерений серии SH2840 составляет от 20 Гц до 500 кГц/2 МГц, что компенсирует недостаток высокопроизводительного моста в диапазоне частот 500 кГц.
Измеритель LCR серии STB8840 оснащен четырехпараметрическим дисплеем, на котором все настройки, параметры мониторинга, сортировки, состояния и т. д. отображаются на одном экране, что позволяет избежать громоздкого процесса частого переключения.
| Frequency Range | STB8840A: 20Hz – 500kHz
STB8840B: 20Hz – 2MHz |
| Basic Accuracy | 0.05% |
| AC Signal Source | Voltage: 5mVrms – 20Vrms
Current: 50μArms – 100mArms |
| DC Bias | Voltage: 0V – ±40V
Current: 0mA – ±100mA Bias current source: 0mA – 100mA |
| DCR Test | Voltage: 100mV – 20V
Current: 0mA – 100mA |
| (Note: see more technical specifications in the ‘Resource’ – ‘Datasheet’) |
| Module No. | Item | Description |
| STB8840A | Precision LCR Meter | Frequency range: 20Hz to 500kHz, including short circuit, fixture and Kelvin test lead with box four-terminal insulation & lock |
| STB8840B | Precision LCR Meter | Frequency range: 20Hz to 2MHz, including short circuit, fixture and Kelvin test lead with box four-terminal insulation & lock |
| Module No. | Item | Description |
| SBF0007A | Magnetic Ring Test Fixture | DC-120MHz, maximum ±42V DC bias, applied to single-turn inductance test of small magnetic ring, customizable size |
| SBF0008A | SMD Component Test Fixture | DC-120MHz, maximum ±42V DC bias, applied to SMD components, especially high-frequency small capacitor ≤3pF or small inductance ≤1uH, test frequency ≥100kHz |
| SBF0009B | SMD Component Test Fixture | DC-15MHz, maximum ±42V DC bias, applied to SMD components |
| SBF1108C | Four-terminal SMD Test Fixture | DC-40MHz, maximum ±42V DC bias, applied to SMD components, especially high-frequency small capacitor ≤3pF or small inductance ≤1uH, test frequency ≥100kHz |
| SBF0047 | Four-terminal Test Fixture | DC-120MHz, maximum ±42V DC bias, applied to impedance testing of wire-like devices, with shielded ground terminal |
| SBF0048 | Four-terminal Test Fixture | DC-13MHz, maximum ±42V DC bias, applied to in-Line axial and radial impedance components |
| SBF0063 | Four-terminal Test Fixture | DC-100kHz, maximum ±42V DC bias, applied to test bolted capacitor and DC_LINK capacitors |
| SBF0062A | Four-terminal Test Fixture | DC-100kHz, maximum ±42V DC bias, applied to test thin film bulk DC_LINK capacitors for electric vehicles |
| SBF0077 | Dielectric Test Fixture | DC-120MHz, DUT size: 10mm-56mm, DUT thickness: ≤10mm, applied to dielectric analysis of solid materials |